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探针台_半自动探针台,高低温探针台,真空探针台,磁场探针台,失效分析测试设备_英铂科学仪器(上海)有限公司 首页 产品 ESD/TLP 极低温磁场探针台 MPI 探针台 失效分析设备 测试仪表 OKMETIC Polytec显微式激光测振仪 国产测试耗材 冷热台 3D X射线扫描仪Xray SiC/GaN/Si功率器件测试方案 解决方案 双面PCB探针台,阻抗与损耗测试,超高频汽车雷达,卫星通信 X射线分析方案 Pre-RF Pulsed IV测量彻底改变晶体管紧凑建模 MPI TS200+Nano5G矢量负载拉力测量 英铂携手MPI推出的PCB探针台助力微软开发下一代人工智能芯 车规级ESD测试-AEC-Q101 半导体分立器件IV、CV特性测试方案 光电器件的LIV特性测试方案 功率器件的IV、CV特性测试方案 太阳能电池的特性表征测试方案 Delta-L损耗测试 四探针法测量半导体电阻率测试方案 开放实验室 新进客户 交付案例 企业 企业简介 新闻活动 人才招聘 ENGLISH 返回 158-2191-4709 EN 首页 产品 ESD/TLP Hanwa产品 T5000 高性能TLP & VF-TLP G5000 最高2048pin ESD测试仪 C5000R 全自动CDM测试仪 W5000M 晶圆级ESD测试仪 S5000R 最高256pin ESD测试仪 HCE-5000 便携式ESD测试仪 极低温磁场探针台 开循环极低温探针台 闭循环极低温探针台 闭循环磁场探针台 低温磁场探针台 ICE低温恒温器 磁场产品 MPI 探针台 MPI手动直流射频晶圆级探针台 MPI半自动直流射频晶圆级探针台 MPI全自动直流射频晶圆级探针台 MPI高功率直流射频晶圆级探针台 MPI射频探针 MPI全自动KGD系统 MPI全自动分选机 MPI全系列测试耗材 失效分析设备 台阶仪 热流仪 酸/激光开封机 EMMI微光显微镜系列 先进封装时域失效分析 Hitachi日立扫描电子显微镜 瞬态热阻测试仪 拉曼光谱检测应用 IV曲线追踪测试仪 测试仪表 Keithley Maury Keisight 概伦电子 R&S 网络分析仪 Farran毫米波系统 晶圆级动态功率测试系统 IWATSU半导体曲线图示仪 化合物功率器件动态老化HTOL测试机 OKMETIC OKMETIC硅片产品 应用领域 Polytec显微式激光测振仪 MSA-650 IRIS 显微式激光测振仪 MSA-600显微式激光测振仪 MSA-100-3D显微式激光测振仪 MSA-060显微式激光测振仪 国产测试耗材 国产高频110G-500G探针 冷热台 探针冷热台 外置探针冷热台 扫描电镜冷热台 3D X射线扫描仪Xray ApexXCT X射线分析方案 SiC/GaN/Si功率器件测试方案 CP测试设备 KGD测试设备 WLBI测试设备 解决方案 双面PCB探针台,阻抗与损耗测试,超高频汽车雷达,卫星通信 X射线分析方案 Pre-RF Pulsed IV测量彻底改变晶体管紧凑建模 MPI TS200+Nano5G矢量负载拉力测量 英铂携手MPI推出的PCB探针台助力微软开发下一代人工智能芯 车规级ESD测试-AEC-Q101 半导体分立器件IV、CV特性测试方案 光电器件的LIV特性测试方案 开放实验室 扫码在线预约实验室 英铂实验室测试中心现有测试类型:直流测试、射频测试、 高压大电流测试、光电测试、极低温磁场测试、ESD/TLP测试、PCB板级测试等 新进客户 交付案例 企业 企业简介 新闻活动 人才招聘 探针台测试系统 Probe Station Test System READ MORE MPI TS-3500SE 12寸全自动探针台 READ MORE MPI TS200-SE 8寸微屏蔽室手动探针台 READ MORE 霍尔效应测试系统 Hall Effect Test System HEMS READ MORE MPS-C-350 三维磁场探针台 READ MORE 低温恒温器 The Cryoststs READ MORE 上海市高新技术企业 上海市“专精特新”企业 英铂科学仪器(上海)有限公司 READ MORE 选择我们 英铂科学仪器 上海市高新技术企业 上海市“专精特新”企业 完善的半导体领域、微纳米实验室测试方案集成商 高新技术企业 “专精特新”企业 1600位"> 合作客户>1600位 常驻点遍布全国 企业简介 英铂科学仪器(上海)有限公司是一家专注于半导体晶圆级测试系统、微纳米科学等领域提供综合性解决方案的企业,为全国各大高校、科研院所... 开放实验室 英铂实验室测试中心现有测试类型:直流测试、射频测试、高压大电流测试、光电测试、极低温磁场测试、ESD/TLP测试、PCB板级测试等。 技术支持 拥有一支经验丰富、技术过硬的团队,总部位于上海,并在北京、深圳成立了办事处,于徐州、西安、成都、合肥、沈阳、南京、厦门成立了7个售后服务网点。 合作客户 与全国多所著名的大学、学院和科研院所建立了良好的合作关系,致力于把具有市场前景的科研成果推向市场。 产品中心 ESD/TLP 极低温磁场探针台 MPI 探针台 失效分析设备 测试仪表 OKMETIC Polytec显微式激光测振仪 T5000 高性能TLP & VF-TLP 产品概要:此设备用于半导体元器件静电保护电路抗静电能力的测试,通过该测试可以... G5000 最高2048pin ESD测试仪 产品概要:HANWA新一代G5000系列ESD静电破坏检测机隆重登场。搭载多Pin脚无继电器... C5000R 全自动CDM测试仪 产品概要:此设备是符合日本及国际标准的高可靠性设备(满足JEITA ESDA J... W5000M 晶圆级ESD测试仪 产品概要:低成本高性能晶圆ESD测试仪,从LED到系统LSI的大口径Wafer,可适用于HBM... 超低温半自动探针台 产品概要:其提供了一个经济的, 稳定的, 可靠的超低温和强磁场环境用于微纳器件... 开循环低温探针台 (LPS-50) 产品概要:低温探针台可以对器件进行非破坏性的测试,器件的最大尺寸可达到102mm(4... 闭循环低温探针台 (CPS-50) 产品概要:此类闭循环制冷机不需要消耗液氦和液氮,CPX系列探针台的温度变化范围 ... 闭循环三维磁场探针台 产品概要:MPS-C-350探针台可以完全将样品放在可控三维磁场进行测试。MicroXact独... 射频探针 产品概要:射频探针的特点之一是其均匀的磨损:经过数十万次探头循环,探头尖端的... 差分射频探针 产品概要:差分射频探针扩展了 MPI 专有的 TITAN™射频探测技术,用于表征... MPI 射频校准基板 产品概要:MPI 提供各种校准标准,以满足晶圆射频和微波测量的特定应用需求。基本... DC、开尔文探针 产品概要:英铂为您提供DC、各类开尔文探针,以供产品测试使用。基本信息:技术优... 滨松EMMI微光显微镜 PHEMOS-X 故障分析 产品概要:The PHEMOSe-X is a high-resolution emission microscope that... FIB NX5000 产品概要:日立Ethos NX5000创新的FIB-SEM设计平台在一个系统中结合了各种分析应... RA-880 激光开封机 产品概要:RA-880 可简单方便的进行半导体塑封器件的封装去层,露出基板上的引线... Elite Etch Cu 化学开封机 产品概要:RKD的Elite Etch Cu是一台可为铜线开封的化学开封机,通过集成了先进... 噪声参数测试系统 产品概要:Maury 噪声参数测试系统的噪声系数是衡量低噪声器件或者噪声放大器噪声... 脉冲I/V测试系统 产品概要:Maury 微波公司脉冲测量技术专业化程度极高而且普遍被业内用户认可,搭... Keithely 4200A-SCS 产品概要:4200A-SCS 是一种可以量身定制、全面集成的半导体参数分析仪,可以同步... Tektronix 示波器系列 产品概要:独特的内置频谱分析功能由选配变为标配,其功能非常适合用于射频分析。1... SOI 硅片:绝缘体上硅技术 Okmetic 是较早将绝缘体上硅技术和 SOI 硅片引入 MEMS 行业的硅片供应商之一... 图案化硅片:DRIE 和光刻技术 具有内置图案和埋腔(C-SOI®)的 Okmetic 单抛片(SSP)、双抛片(DSP)和 ... TSV 硅片:硅通孔技术 使用多晶硅填充 TSV,Okmetic 的硅片可实现 MEMS 的三维集成和先进的晶圆级封... RFSi®硅片:射频滤波器的高阻片 Okmetic 的 RFSi®高阻片是制造射频滤波器和设备的硅基衬底。其 RFSi®高... MSA-100-3D显微式激光测振仪 产品概要:MEMS 和微系统的3D 振动测量,实物振动通常是三维振动。诚然,您可选... MSA-600 显微式激光测振仪 产品概要:表面形貌、动态特性分析及可视化是显微结构(如MEMS器件)测试和开发的... MSA-650 IRIS 显微式激光测振仪 产品概要:MEMS器件的动态特性测试和机械响应可视化对于产品开发、故障排除和有限... MSA-060 显微式激光测振仪 产品概要:MSA-060显微式激光测振仪是一款紧凑型光学测量系统,用于全面评估MEMS和... 了解更多 新进客户 上海芯义恒科技有限公司 润芯感知科技(南昌)有限公司 北京锐克天成科技有限公司 普冉半导体(上海)股份有限公司 武汉硕智达科技有限公司 上海新微技术研发中心有限公司 湖北浩煜科技有限公司 苏州苏纳光电有限公司 上海华大九天信息科技有限公司 山西北大碳基薄膜电子研究院 北京万基伟业电子科技有限公司 电计贸易(上海)有限公司 济南量子技术研究院 苏州华太电子技术股份有限公司 中国科学院微电子研究所 中微科电(北京)科技有限公司 厦门鑫荣科技有限公司 澳门迪奇孚瑞生物科技有限公司 上海隆宇芯航能源科技有限公司 香港中文大学(深圳) 武汉理工大学 中国电力科学研究院有限公司 陕西师范大学 苏州大学 中国科学院上海高等研究院 西安启普检测科技有限公司 山西师范大学 无锡普罗卡科技有限公司 苏州长光华芯光电技术股份有限公司 怀格(苏州)半导体有限公司 河源市艾佛光通科技有限公司 天津楚格科技有限公司 华南理工大学 南方科技大学 苏州众迅发半导体有限公司 成都航天博目电子科技有限公司 南京邮电大学 成都市时代速信科技有限公司 深圳市尔雷仪器设备有限公司 思瑞浦微电子科技(苏州)股份有限公司 迈微精仪科技(南京)有限公司 深圳市星晟源科技有限公司 宁波大学 成都飞易驰电子科技有限公司 武汉敏声新技术有限公司 合肥芯谷微电子股份有限公司 深圳市森东宝科技有限公司 华测集团 中汽芯(深圳)科技有限公司 西安微电子技术研究所 西湖大学 合肥芯投微电子有限公司 台湾中兴大学 粤芯半导体技术股份有限公司 印度塔塔集团 上海光电科技创新中心 重庆芯联微电子有限公司 上海安其威微电子科技有限公司 澳门大学 中国汽车工程研究院股份有限公司 上海新微半导体有限公司 西安交通大学 上海积塔半导体有限公司 北京紫光青藤微系统有限公司 中国科学院化学研究所 河南大学 深圳市中兴微电子技术有限公司 武汉工程大学 华中科技大学 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 陕西电子芯业时代 极海微电子股份有限公司 中国科学技术大学 闽都创新实验室 江汉大学 泰斯优尼(北京)科技有限公司 上海孛璞半导体技术有限公司 中国计量大学 复旦大学 苏州惟清半导体有限公司 湘潭大学 香港科技大学(广州) 芯联先锋集成电路制造(绍兴)有限公司 华为数字技术(苏州)有限公司 重庆芯联微电子有限公司 南昌大学 中电科思仪科技股份有限公司 上海交通大学 华东师范大学 上海大学 中国科学院电工研究所 中国科学院过程工程研究所 中北大学 深圳市海思半导体有限公司 浙江老鹰半导体技术有限公司 西安电子科技大学 南京诺瓦星科技有限公司 华南师范大学 北京大学 合肥科微芯测科技有限公司 上海新微技术研发中心有限公司 湖北浩煜科技有限公司 苏州苏纳光电有限公司 上海华大九天信息科技有限公司 山西北大碳基薄膜电子研究院 北京万基伟业电子科技有限公司 电计贸易(上海)有限公司 济南量子技术研究院 苏州华太电子技术股份有限公司 中国科学院微电子研究所 中微科电(北京)科技有限公司 厦门鑫荣科技有限公司 澳门迪奇孚瑞生物科技有限公司 上海隆宇芯航能源科技有限公司 香港中文大学(深圳) 武汉理工大学 中国电力科学研究院有限公司 陕西师范大学 苏州大学 中国科学院上海高等研究院 西安启普检测科技有限公司 山西师范大学 无锡普罗卡科技有限公司 苏州长光华芯光电技术股份有限公司 怀格(苏州)半导体有限公司 河源市艾佛光通科技有限公司 天津楚格科技有限公司 华南理工大学 南方科技大学 苏州众迅发半导体有限公司 成都航天博目电子科技有限公司 南京邮电大学 成都市时代速信科技有限公司 深圳市尔雷仪器设备有限公司 思瑞浦微电子科技(苏州)股份有限公司 迈微精仪科技(南京)有限公司 深圳市星晟源科技有限公司 宁波大学 成都飞易驰电子科技有限公司 武汉敏声新技术有限公司 合肥芯谷微电子股份有限公司 深圳市森东宝科技有限公司 华测集团 中汽芯(深圳)科技有限公司 西安微电子技术研究所 西湖大学 合肥芯投微电子有限公司 台湾中兴大学 粤芯半导体技术股份有限公司 印度塔塔集团 上海光电科技创新中心 重庆芯联微电子有限公司 上海安其威微电子科技有限公司 澳门大学 中国汽车工程研究院股份有限公司 上海新微半导体有限公司 西安交通大学 上海积塔半导体有限公司 北京紫光青藤微系统有限公司 中国科学院化学研究所 河南大学 深圳市中兴微电子技术有限公司 武汉工程大学 华中科技大学 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 陕西电子芯业时代 极海微电子股份有限公司 中国科学技术大学 闽都创新实验室 江汉大学 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电阻率是决定半导体材料电学特性的重要参数,为了表征工艺质量以及材料的掺杂情况,需要测试材料的电阻率。半导体材料电阻率测试方法有很多种,其中四探针法具有设备简单、操作方便、... 光电器件的LIV特性测试方案 LIV即光电特性,是验证激光二极管、探测器性能的普遍的方法。在晶圆、切割、管芯、封装后老化测试过程中,为降低生产成本同时增加产品吞吐量,快速可靠的 LIV测试 系统对制造光电器件的... 功率器件的IV、CV特性测试方案 电阻率是决定半导体材料电学特性的重要参数,为了表征工艺质量以及材料的掺杂情况,需要测试材料的电阻率。半导体材料电阻率测试方法有很多种,其中四探针法具有设备简单、操作方便、... 更多测试方案 半导体材料的霍尔效应是表征和分析半导体材料的重要手段,可根据霍尔系数的符号判断材料的导电类型。霍尔效应本质上是运动的带电粒子在磁场中受洛仑兹力作用引起的偏转,当带电粒子(... 新闻活动 公司新闻 英铂邀您参加自然-低维材料与器件会议 2025-09-15 英铂邀您参加自然-低维材料与器件会议 我们此次将会带来多种半导体产品和专业测试方案,SiC GaN Si功率器件测试方案(CP KGD WLBI设备)、X射线分析方案(3D X射线扫描仪-Xray等 ... 了解更多 英铂邀您参加中国物理学会2025秋季学术会议 2025-09-15 英铂邀您参加中国物理学会2025秋季学术会议 我们此次将会带来多种半导体产品和专业测试方案,SiC GaN Si功率器件测试方案(CP KGD WLBI设备)、X射线分析方案(3D X射线扫描仪-Xray等 ... 了解更多 英铂邀您参加SEMI-e深圳国际半导体展 2025-09-04 英铂邀您参加SEMI-e深圳国际半导体展 我们此次将会带来多种半导体产品和专业测试方案,SiC GaN Si功率器件测试方案(CP KGD WLBI设备)、X射线分析方案(3D X射线扫描仪-Xray等 ... 了解更多 英铂邀您参加ChinaNANO 2025 2025-08-26 英铂邀您参加ChinaNANO 2025 我们此次将会带来多种半导体产品和专业测试方案,3D X射线扫描仪-Xray、ESD TLP测试仪、手动 半自动 全自动 低温探针台,英铂冷热台系列等 ... 了解更多 英铂邀您参加2025中国材料大会 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